走査型電子顕微鏡（FE-SEM）EBSDシステム　一式

東京都一般競争入札物品科学計測機器

東京大学が走査型電子顕微鏡、押出成形装置、原子層堆積システム、ビットエラーレート測定器の4件の科学計測機器をリバースオークションシステムで一般競争入札する。契約保証金は免除で、書類受領期限は2026年7月27日。

資格要件

等級A、B又はC等級

全省庁統一資格において関東・甲信越地域の物品製造販売でA・B・C等級に格付け、研究体制及びアフターサービス体制の整備を証明する必要がある。

類似案件の落札実績（価格の目安）

類似案件の落札実績は有料プランでご利用いただけます

この案件に類似する過去の落札実績8件（落札価格・落札企業・時期）を確認して、根拠のある入札価格を設定できます。

有料プラン（月額 ¥10,000〜・税抜）でご利用いただけます。