表面電離型質量分析計　一式

受付中残り23日

東京都一般競争入札物品科学機器・分析計測装置

独立行政法人国立科学博物館が表面電離型質量分析計一式の購入について一般競争入札を実施。令和8年7月31日が入札書受領期限で、令和8年8月28日に開札。

資格要件

等級A又はB以上

令和07・08・09年度全省庁統一資格（関東・甲信越地域）の「物品の製造」又は「物品の販売」でA又はB等級に格付け。迅速なアフターサービス・メンテナンス体制の整備を証明。

類似案件の落札実績（価格の目安）

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