チップ間インターフェースビットエラーレート測定器一式

受付中残り19日

東京都一般競争入札物品研究機器・測定機器

東京大学がFE-SEM EBSDシステム、押出成形装置、原子層堆積システム、ビットエラーレート測定器の4品目を一般競争入札で調達する。落札はリバースオークション方式で電子入札により実施される。

資格要件

等級A, B又はC等級

全省庁統一資格で関東・甲信越地域の物品の製造又は販売A~C等級、製造物品の研究・アフターサービス体制を有すること

類似案件の落札実績（価格の目安）

類似案件の落札実績は有料プランでご利用いただけます

この案件に類似する過去の落札実績1件（落札価格・落札企業・時期）を確認して、根拠のある入札価格を設定できます。

有料プラン（月額 ¥10,000〜・税抜）でご利用いただけます。