半導体テスター

締切間近残り6日
神奈川県一般競争入札物品研究機器・電子計測機器

横浜国立大学が超伝導単一光子検出器及び半導体テスターを一般競争入札で調達する。入札書提出期限は2026年7月14日17時。開札はA:2026年8月19日、B:2026年8月21日に本部東棟2階入札室で実施。

発注機関
国立大学法人横浜国立大学(神奈川県)
入札形式
一般競争入札
分類
物品 / 研究機器・電子計測機器
公示日
2026年6月12日(金)
参加申請期限
入札締切
2026年7月14日(火)締切間近残り6日
開札日
2026年8月19日(水)
履行場所
入札説明書及び仕様書のとおり
履行期間
納入期限:A 2027-02-26、B 2027-03-31
地域要件
関東・甲信越地域の等級格付けが必要
資格要件

等級A、B、C又はD等級(関東・甲信越地域、物品の販売)

全省庁統一資格で関東・甲信越地域の物品の販売A~D等級、契約実施規則第4条・第5条非該当、取引停止措置中でないこと

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