半導体テスター

締切間近残り6日
神奈川県一般競争入札物品研究機器・電子計測機器

横浜国立大学が超伝導単一光子検出器と半導体テスターを一般競争入札で調達する。開札日は品目Aが令和8年8月19日、品目Bが令和8年8月21日。入札保証金・契約保証金は免除。

発注機関
国立大学法人横浜国立大学(神奈川県)
入札形式
一般競争入札
分類
物品 / 研究機器・電子計測機器
公示日
2026年6月12日(金)
参加申請期限
入札締切
2026年7月14日(火)締切間近残り6日
開札日
履行場所
入札説明書及び仕様書のとおり
地域要件
関東・甲信越地域の資格格付けを有すること
資格要件

等級A,B,C,D

全省庁統一資格にて令和8年度関東・甲信越地域「物品の販売」A~D等級に格付けされていること等

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